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上海光电测试系统价格 欢迎咨询 上海明策供应

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***更新: 2025-03-29 00:14:40
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产品详细说明

INFRAMET DT 热成像光电测试系统是用千实验室条件下对热像仪各项性能检测的设备。 如果需要的话DT设备还可以检测TV/LLLTV成像,或者热像仪和TV/LLLTV成像之间的光轴校正。 注:推荐用MS设备来检测和校准感应器比较多的系统。

DT系列设备应该是INFRAMET成熟的设备,这个已经得到了来自全球各地客户的宽泛认可。中长红外光谱带的敏感热成像技术是项很重要的科研和安全技术,这些成像仪也取得了大规模的应用。所以检测这些热成像仪对生产、维护和使用都有着不同的重要的作用。因此高科技的校准和检测对这些昂贵的热像仪的生产、维护、培训、采购优化都有着重要的意义。 Inframet MS多传感器测试系统,助力油气管道泄漏检测。上海光电测试系统价格

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OPO望远瞄准测试系统是一套用于测试光学瞄准系统的模块化多功能测试系统,OPO测试系统支持一系列重要参数的测试:分辨率,MTF(轴上,离轴),放大率,畸变,视场,透过率,渐晕,出瞳距离,出瞳直径,屈光度范围,视差等。被测望远瞄准系统可以由这些参数来表征其性能。OPO测试系统对于望远瞄准系统的生产商,采购商或者维修站来说都是比较好的测试工具。OPO系统是人工由操作计算机系统的概念建立的,该系统可以对被测望远镜瞄准具生成的参考图像进行分析。简单的手工操作设计理念,模块化设计,可靠性高,使用寿命长。上海光电测试系统价格精确参数,光电测试领航机器人技术发展。

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OPO测试系统为计算机化的系统,用于对被测望远瞄准系统生成的参考图像进行分析。OPO测试系统由以下模块组成:TG-OP目标发生器,CTG控制器,一组靶标,一组圆孔,CPO10100投射式平行光管,MP-A机械平台,MP-B机械平台,MP-C平台,DPM66屈光度计,计算机,图像采集卡,一组孔径调节器以及TOPO测试软件。

产品参数如下

表1被测光学系统范围

参数:数值

入射口径范围:10-60mm

出射口径范围:2-60mm

放大率范围:-30x

表2测试调节范围

参数:数值

模拟距离50m,100m,200m,250m,300m,400m,600m,∞

离轴角范围:0°-30°


BLIQ黑体是使用三个温度调节器构建的。

首先,标准Peltier元件能够在约0ºC至约100ºC范围内实现准确的温度调节。

第二,液体冷却器用于将黑体温度降低到零度以下。

第三,当温度超过100ºC时,可选加热器进行调节温度。BLIQ黑体附有专业用罩。当使用干燥氮气填充时,该罩可以保护黑体发射器免受结霜或湿气冷凝的影响。BLIQ黑体的特点是具有优异的温度分辨率、时间稳定性、温度均匀性和温度不确定性。所有这些功能使得BLIQ黑体被用作测试/校准热成像仪/IRFPA模块系统中的红外辐射源的理想选择,或国家标准实验室的温度标准。 Inframet OPO 望远瞄准测试系统,提升电子产品生产线质量控制。

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MAB黑体是在整个太赫兹和亚太赫兹频谱带中商用的并且具有高发射率的大面积宽带黑体。此黑体已经由Inframet研究团队进行了几年的实验研究。

主要特性

宽泛的频谱范围涵盖了THz和亚THz频带;大面积高达1mx1m;Thz/亚THz波段的高发射率;大面积辐射面上具有良好的热均匀性;高温度分辨率1mK和温度稳定性10mK;高速,易于PC控制;紧凑可靠的设计(黑体与控制器集成)。

在国际市场提供的典型面源黑体(包括Inframet提供的TCB/MTB黑体)被优化,以模拟在常用的红外辐射光谱带中的黑体目标:约1μm至约15μm。 这种黑体的发射面的高发射率是通过温度受控的金属板,与其涂覆的高吸收性涂料薄层来实现。 光电测试系统,保障文物修复科学精细。上海光电测试系统价格

光电系统,提升化工原料纯度检测精度。上海光电测试系统价格

SIMTERM – 热像仪模拟软件是用软件来模拟一个给定的热像仪系统产生的红外图像。它能够模拟市场上各种不同的热像仪。它可以生成在不同的天气环境条件下一系列不同目标的实际热图。它可以把计算机变成一台热像仪模拟器。启初开发这一模拟软件目的之一就是培训热像仪的操作者,当然也可以优于开发新一代热像仪的设计优化。它可以使操作者在没有昂贵的热像仪的情况下熟悉热像仪的使用,以及如何观察分析热像仪的图像。特别是对于没有热像仪概念和不熟悉热像仪操作的人员更是一个必不可少的工具。上海光电测试系统价格

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