检测电路检测超声波或兆声波电源输出的每个波形的振幅,将检测到的每个波形的振幅与预设值相比较,如果检测到任一波形的振幅比预设值大,检测电路发送报警信号到主机,主机接收到报警信号则关闭超声波或兆声波电源,其中预设值大于正常工作时的波形振幅。在一个实施例中,超声波或兆声波装置与喷头相结合并置于半导体基板附近,天津半导体晶圆承诺守信,超声波或兆声波装置的能量通过喷头喷出的液柱传递到半导体基板。本发明还提供了一种使用超声波或兆声波清洗半导体基板的装置,包括晶圆盒、清洗槽,天津半导体晶圆承诺守信、超声波或兆声波装置、至少一个入口、超声波或兆声波电源、主机和检测电路。晶圆盒装有至少一片半导体基板。清洗槽容纳晶圆盒。超声波或兆声波装置设置在清洗槽的外壁,天津半导体晶圆承诺守信。至少一个入口用来向清洗槽内注满化学液,化学液浸没半导体基板。主机设置超声波或兆声波电源以频率f1、功率p1驱动超声波或兆声波装置,在液体中的气泡气穴振荡损伤半导体基板上的图案结构之前,将超声波或兆声波电源的输出设为零,待气泡内的温度下降到设定温度后,再次设置超声波或兆声波电源的频率为f1、功率p1。检测电路分别检测频率为f1,功率为p1时的通电时间和断电时间,比较在频率为f1。什么才可以称为半导体晶圆?天津半导体晶圆承诺守信
本实用新型具有以下有益效果:本实用新型在继承了平放型花篮的优点的同时,可实现多层同时清洗,有效提高了清洗效率,更重要的是可满足多种不同尺寸(例如4寸、5寸、6寸等)、不同形状(例如圆形、半圆形、扇形等)的晶圆同时清洗,进一步降低了生产成本,且灵活性更好。附图说明图1为本实用新型一个具体实施例的结构示意图;图2为具体实施例中平放花篮的结构示意图;图3为具体实施例中平放花篮安装十字形竖直挡板后的结构示意图;图4为十字形挡板的结构示意图。图中附图标记含义如下:1、提把,11、连接端口,2、平放花篮,21、圆形底盘,22、镂空侧壁,23、连接端子,24、竖直挡板。具体实施方式针对现有技术不足,本实用新型提出了一种半导体晶圆湿法清洗治具,该治具包括提把和一组平放花篮;所述提把沿竖直方向均匀设置有一组连接端口;所述平放花篮由圆形底盘和设置在圆形底盘边缘的一圈镂空侧壁组成,圆形底盘上设置有一组通孔,在所述镂空侧壁的外缘设置有至少一个连接端子,所述连接端子与提把上的任一连接端口相配合可使得平放花篮可拆卸地固定于提把上对应于该连接端口的位置。为了便于清洗过程中清洗液均匀地进入花篮,推荐地,圆形底盘上的所述通孔均匀分布。辽宁半导体晶圆生产半导体产品的加工过程主要包括晶圆制造和封装测试。
所述送料腔内设有可在切割状态时限制所述滑块左右晃动,并在所述滑块移动状态时打开的稳定机构,所述送料腔的左侧连通设有切割腔,所述切割腔内设有可用于切割的切割片,所述切割腔的左侧连通设有升降腔,所述升降腔的内壁上设有可带动所述切割片升降的升降块,所述升降腔的下侧开设有动力腔,所述动力腔内设有可控制所述升降块间歇性往返升降,来达到连续切割状态的动力机构,所述切割腔靠上侧位置设有两个左右对称,且能用来冷却所述切割片的海绵,所述切割腔的靠上侧位置左右两侧连通设有冷却水腔,是冷却水腔的上侧连通设有传动腔,所述传动腔内设有可控制所述海绵在所述切割片上升时抵接所述切割片,达到冷却效果的传动机构,所述传动机构与所述动力机构联动运转。进一步的技术方案,所述步进机构包括固设在所述滑块底面上的步进块,所述步进块位于所述从动腔内,所述步进块的底面固设有***齿牙,所述从动腔的后壁上转动设有两个左右对称的旋转轴,所述旋转轴的外周上固设有***连杆,所述从动腔的后壁上铰接设有两个左右对称的第二连杆,所述第二连杆与所述***连杆之间铰接设有三叉连杆,所述三叉连杆另一侧铰接设有旋转轴,两个所述旋转轴的顶面上固设有一个横条。
目的是使得气泡内气体和/或蒸汽的温度降至接近室温t0。图12a-12b揭示了根据本发明的另一个实施例的声波晶圆清洗工艺。本实施例的声波晶圆清洗工艺与图10a-10c所示的实施例的差异*在步骤10050。在本实施例的声波晶圆清洗工艺中,在时间段τ2内,电源的频率增至f2,功率水平p2基本上等于功率水平p1。图13a-13b揭示了根据本发明的另一个实施例的声波晶圆清洗工艺。本实施例的声波晶圆清洗工艺与图10a-10c所示的实施例的差异*在步骤10050。在本实施例的声波晶圆清洗工艺中,在时间段τ2内,电源的频率增至f2,功率水平从p1降至p2。图14a-14b揭示了根据本发明的另一个实施例的声波晶圆清洗工艺。本实施例的声波晶圆清洗工艺与图10a-10c所示的实施例的差异*在步骤10050。在本实施例的声波晶圆清洗工艺中,在时间段τ2内,电源的频率从f1增至f2,功率水平从p1增至p2。由于频率f2高于频率f1,因此,声波能量对气泡的加热不那么强烈,功率水平p2可略高于功率水平p1,但是不能太高,以确保在时间段τ2内,气泡内气体和/或蒸汽的温度降低,如图14b所示。图15a至图15c揭示了在声波清洗晶圆的过程中,稳定的气穴振荡损伤晶圆上的图案结构。参考图15a所示。半导体晶圆市场价格是多少?
清洗液中的气泡可以在每次***时段的清洗后充分冷却,以避免损伤晶圆。根据以下实施例的详细描述,本发明的其他方面、特征及技术对于本领域的技术人员将是显而易见的。附图说明构成本说明书一部分的附图被包括以描述本发明的某些方面。对本发明以及本发明提供的系统的组成和操作的更清楚的概念,通过参考示例将变得更加显而易见,因此,非限制性的,在附图中示出的实施例,其中类似的附图标记(如果它们出现在一个以上的视图)指定相同的元件,通过参考这些附图中的一个或多个附图并结合本文给出的描述,可以更好地理解本发明,应当注意,附图中示出的特征不是必须按比例绘制。图1a至图1b揭示了根据本发明的一个实施例的使用超声波或兆声波装置的晶圆清洗装置。图2a至图2g揭示了不同形状的超声波或兆声波换能器。图3揭示了在晶圆清洗过程中气泡内爆。图4a至图4b揭示了在晶圆清洗过程中不稳定的气穴振荡损伤晶圆上的图案结构。图5a至图5c揭示了在声波清洗晶圆过程中气泡内部热能变化。图6a至图6c揭示了在声波清洗晶圆过程中**终发生微喷射。图7a至图7e揭示了根据本发明的一个实施例的声波晶圆清洗工艺。图8a至图8d揭示了根据本发明的另一个实施例的声波晶圆清洗工艺。半导体行业,晶圆制造和晶圆加工。天水半导体晶圆商家
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