武汉全自动近场扫描优点 扬芯科技供应

EMI近场辐射特性：新一代串行解串器例子这是同一家半导体供应商的第二个例子，该公司开发了一个通过串行解串器进行点到点传输的第二代芯片组解决方案。在第三代芯片组中，设计团队采用了一种不同的技术并升级了传输能力。他们将双向控制通道一起嵌入高速串行链路中，武汉全自动近场扫描优点，从而实现了双向传输（全双工）。对测试结果进行比较之后，设计团队发现由于使用了SSCG功能导致电磁辐射显着减少。汽车电子工程师很大的挑战在于减少EMI辐射。客户支持团队每次向汽车厂商客户展示这些结果时，他们普遍都表现出了极大的兴趣，武汉全自动近场扫描优点。任何降低EMI的功能（此案例中为SSCG功能）都可以缩短上市时间，武汉全自动近场扫描优点、降低屏蔽和成本支出。在任何新PCB的开发过程中，设计工程师都必须找出设计之外的辐射体或射频泄漏。武汉全自动近场扫描优点

群脉冲（EFT）近场电磁扫描诊断分析：可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统使用电磁场近场耦合探头套装，支持0.01mm分辨率步进电磁扫描，采用近场电磁耦合的方式将100V-4kV的群脉冲(EFT)电压耦合到电路中，从而找到敏感源头位置，解决群脉冲抗扰度问题，提高产品的群脉冲抗扰能力。普遍用于多媒体设备、触控设备、感应器、无线终端模块、仪器仪表等行业的群脉冲抗扰度问题解决，在电磁兼容可靠性正向研发、群脉冲敏感源头定位、器件选型群脉冲抗干扰性能评估、更新方案设计的群脉冲抗干扰性能评估等方面。郑州电子近场扫描系统设备方案定制的串行解串器芯片组的目标客户是要求所安装电子设备具有低EMI辐射特性的汽车厂商。

为了量化比较半双工解串器与新一代全双工设计的辐射特性，设计团队再次使用了内部的EMI极近场扫描仪。他们将原来的半双工板放在扫描仪上，进行基线测量。对待测器件加电后，他们在PC上开启了扫描仪。这是同一家半导体供应商的第二个例子，该公司开发了一个通过串行解串器进行点到点传输的第二代芯片组解决方案。在第三代芯片组中，设计团队采用了一种不同的技术并升级了传输能力。他们将双向控制通道一起嵌入高速串行链路中，从而实现了双向传输（全双工）。

射频干扰（RFI）近场电磁扫描诊断分析：可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统支持诊断和分析9kHz-40GHz射频干扰（RFI）电磁波所带来的干扰问题，使用电场近场探头(H-Probe)、高低频磁场近场探头(H-Probe)套装，支持0.01mm分辨率步进电磁扫描，支持-90dBm以上射频信号分析。支持频率分布、功率分布、频谱分布、谐波分布等多射频干扰信号可视化分析功能，满足研发级正向设计、整机、板级、芯片的辐射杂散问题自动诊断分析，普遍用于2/3/4/5G手机、蓝牙、WiFi、物联网无线终端模块等行业，在电磁兼容可靠性正向研发、辐射杂散评估、辐射杂散干扰源头定位、替代物料辐射杂散评估、器件选型辐射杂散评估、成本降低辐射杂散性能评估、更新方案设计的辐射杂散性能评估、电磁仿真验证等方面。测出光纤折射率分布以及其他几何特性参数的测试方法。也可用于测量模场直径。

近场扫描系统的制作方法：测量一件介质对电 磁波的响应特征，需要检测穿过该介质后的电磁波其空间各个点的电磁特性，然后利用一定的处理设备将检测到的空间各点的电磁特性值记录下来并进行分析，对比未穿过介质以前的电磁波，可以计算出介质对电磁波的响应特性。以上过程需要通过三维近场扫描系统完成。现有的三维近场扫描系统I所示，主要包括采集单元2、分析单元3、处理单元6以及移动单元4和控制单元5。其中，采集单元2如接收天线用于采集穿过介质I后的电磁波在空间各个点上的电磁参数，移动单元4例如电机、滑轨则辅助采集单元2在三维空间上以一定的步长上下、左右或前后移动，控制单元5用来驱动移动单元4的启动、停止等。台式扫描仪包括2，436条回路，可产生1，218个间隔为7.5mm的磁场探针。郑州电子近场扫描系统设备方案

在离开被测目标3λ～5λ（λ为工作波长）距离上测量该区域电磁场的技术称为近场测量技术。武汉全自动近场扫描优点

散射近场测量：（1）常规天线电参数的测量：天线近场测量可以给出天线各个截面的方向图以及立体方向图，可以分析出方向图上的所有电参数（波束宽度、副瓣电平、零值深度、零深位置等）和天线的极化参数（轴比、倾角和旋向）以及天线的增益。（2）低副瓣或很低副瓣天线的测量：天线方向图副瓣电平在-28～-35 dB之间的天线称为低副瓣天线；副瓣电平小于-40 dB的天线称为很低副瓣天线。对它们的测量要用到“零探头”技术，据文献报导，副瓣电平在-40 dB以上时，测量精度为±3 dB，副瓣电平为-55 dB时，测量精度为±5 dB。武汉全自动近场扫描优点

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