深圳可视化近场扫描功能 扬芯科技供应

辐射近场测量需要解决的问题：1.时域辐射近场测量的研究：为了反映脉冲工作状态和消除环境及其他因素对测量数据的影响，时域测量是一个良好的解决此类问题的途径，深圳可视化近场扫描功能，但目前处于研究阶段。2.无相位的辐射近场测量的研究：前述的辐射近场测量方法都需要测量出近场的相位和幅度，才能利用近场理论计算出天线的远场电特性，为了简化计算公式和测量系统以及降低测量时间与测量的相位误差（在频率f很高的情况下，深圳可视化近场扫描功能，即f＞80 GHz，深圳可视化近场扫描功能，相位的测量误差是很大的），于是，有学者提出只用近场测量值的幅度来重建天线远场的方法。近场扫描测试系统：对天线近场区（离开天线几个波长范围）的电磁场分布进行测量。深圳可视化近场扫描功能

辐射杂散(RSE)近场电磁扫描诊断分析：可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统支持频率范围9kHz-40GHz的射频辐射杂散（RSE）近场分析，使用电场近场探头(H-Probe)、高低频磁场近场探头(H-Probe)，支持0.01mm分辨率步进电磁扫描，支持-90dBm以上辐射杂散信号分析。支持频率分布、功率分布、频谱分布、谐波分布等多辐射杂散RSE可视化分析功能，满足研发级正向设计、整机、板级、芯片的辐射杂散问题自动诊断分析，普遍用于手机、多媒体设备、无线终端模块、医疗、、仪器仪表等行业的电磁兼容可靠性正向研发、辐射杂散评估、辐射杂散干扰源头定位、替代物料辐射杂散评估、器件选型辐射杂散评估、成本降低辐射杂散性能评估、更新方案设计的辐射杂散性能评估、电磁仿真验证等方面。深圳可视化近场扫描功能用扩展光源照射光纤输入端面，而在光纤输出端面上逐点测量出射度。

散射近场测量：1.天线口径场分布诊断：天线口径场分布诊断是通过测量天线近区场的分布逆推出天线口径场分布，从而判断出口径场畸变处所对应的辐射单元，这就是天线口径分布诊断的基本原理。该方法对具有一维圆对称天线口径分布的分析是可靠的，尤其对相控阵天线的分析与测量已有了充分的可信度。2.测量精度及误差分析：辐射近场测量的研究与误差分析的探讨是同时进行的，研究结果表明：辐射近场测量的主要误差源为18项，大致分为4个方面，即探头误差、机械扫描定位误差、测量系统误差以及测量环境误差。对于平面辐射近场测量的误差分析已经完成，计算机模拟及各项误差的上界也已给出；柱面、球面辐射近场测量的误差分析尚未完成。

近场扫描系统的制作方法：测量一件介质对电 磁波的响应特征，需要检测穿过该介质后的电磁波其空间各个点的电磁特性，然后利用一定的处理设备将检测到的空间各点的电磁特性值记录下来并进行分析，对比未穿过介质以前的电磁波，可以计算出介质对电磁波的响应特性。以上过程需要通过三维近场扫描系统完成。现有的三维近场扫描系统I所示，主要包括采集单元2、分析单元3、处理单元6以及移动单元4和控制单元5。其中，采集单元2如接收天线用于采集穿过介质I后的电磁波在空间各个点上的电磁参数，移动单元4例如电机、滑轨则辅助采集单元2在三维空间上以一定的步长上下、左右或前后移动，控制单元5用来驱动移动单元4的启动、停止等。借助扫描系统，电路板设计工程师可以预先测试和解决电磁兼容问题。

电磁场近场扫描装置包括探头、空间移动平台、显微摄像装置、信号分析装置和计算机，探头固定于空间移动平台，空间移动平台根据计算机的指令移动，以使探头移动，探头逐点扫描待测物品的电磁场近场，获得电信号数据(例如电压数据、电流数据等)，信号分析装置分析电信号数据获得测量数据，同时显微摄像装置准确监测探头在移动过程中与待测物品之间的距离，获得距离数据，计算机根据测量数据和距离数据处理获得待测物品的电磁场近场扫描结果。另外本发明还提供上述电磁场近场扫描装置的扫描方法。EMI近场辐射特性：新一代串行解串器例子，这是同一家半导体供应商的第二个例子。深圳可视化近场扫描功能

如果被测目标是辐射器，则称为辐射近场测量。深圳可视化近场扫描功能

近场扫描仪的特点：1.不需要消声室：可以使用场分离技术将辐射声从房间反射声中分离出来。2.比消声室测量精度更高100Hz以下，不需要房间校正曲线。3.快速测量：标准3D声学测量，可在不到20分钟内完成典型两分频系统的声功率测量。4.高信噪比：近场中声压级高，对环境噪声的要求不需要太严格。全部的辐射数据集从近场测量获得的辐射数据集中可获取3D空间中任何点的SPL。近场扫描仪使用移动的麦克风来扫描整体声源（如扬声器系统或安装在障板上的换能器）近场中的声压。被测设备（<500kg）在扫描过程中不会移动，这样，非消声环境中的反射就可以保持一致并通过新颖的分析软件进行监测，该软件使用声学全息和场分离技术来提取直达声并减少室内反射。深圳可视化近场扫描功能

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