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FLA-6610T高温老化设备，是一款专门针对eMMC、UFS、eMCP…等颗粒存储芯片进行高温老化的设备。设备采用专业工控机和Windows系统控制，能够同时支持1520颗芯片同步老化测试，深圳自动IC老化测试设备厂家电话，腔体可在产生高温的同时确保温度精细嗡嗡嗡。

性能特点

1：10层堆叠技术，可同时测试10Tray产品。

2：技术源自日本，使用FPGA（ARM）架构

3：可同时针对1520颗芯片进行老化测试

4：预留MES系统对接接口

5：更換不同老化板即可生产eMCP/eMCP/ePOP等不同产品

6：单颗DUT单独的电源设计，深圳自动IC老化测试设备厂家电话，深圳自动IC老化测试设备厂家电话，保护产品

设备型号:FLA-6610T
使用产品类别:eMMC/eMCP/ePOP

温度范围:常温~+85°
测试DUT 数:1520pcs
电源:三相380V
功率:20KV
尺寸:1900mm（长）*1700mm（宽）*1900mm（高）
重量:600kg

优普士专业生产存储颗粒高低温测试设备，为了让memory颗粒存储芯片晶圆品质得到保障做一道老化测试。 FLA-6606HL高低温老化设备，能够同时支持PCIe、SATA 接口SSD 模组老化测试，产生高低温的同时确保温度准确。深圳自动IC老化测试设备厂家电话

优普士电子FP-006C一款专门针对eMMC颗粒存储芯片进行整盘产品高低温老化的老化板。采用整盘产品同时接触技术，精度高。

性能特点：

1：占用空间小

2：可同时测试152pcs产品

3：ARM内可建制BIB自我检测功能

4：BIB板内建制温度侦测功能

5：预留MES系统对接接口

6：单颗DUT电源设计，保护产品。

设备型号FP-006C使用产品类别：eMMC、温度范围：-20℃~85℃测试DUT数：152pcs尺寸：400mm（长）*380mm（宽）*50mm（高）重量4kg。是一款不错的设备。 深圳自动IC老化测试设备厂家电话FLA-6610T 高温老化设备腔体可在产生高温的同时确保温度准确。

1、确保测试参数和环境的准确可靠是进行芯片老化测试的关键。只有通过准确测量和控制测试参数和环境，才能确保测试结果的准确性和可靠性。

2、设计合理可行的测试方案对于芯片老化测试至关重要。在设计测试方案时，需要充分考虑实际情况和测试过程中可能出现的各种情况，以确保测试的有效性和可行性。

3、准确、完整地记录测试数据对于芯片老化测试必不可少。只有对测试数据进行准确、完整的记录，才能确保测试结果的真实性和可靠性。

4、在进行芯片老化测试时，必须注意安全防护。确保测试过程中人员和设备的安全是至关重要的。只有在安全的环境中，才能顺利进行测试。

优普士专注于为广大客户群体提供FT测试、IC烧录、lasermarking、编带、烘烤、视觉检测（WLCSP\BGA\LQFP)等半导体芯片后段整合的一站式业务

芯片透过高/低温寿命试验，以仿真在不同温度下的加速老化状态，常用的加速因子有电压、电流、温度与湿度等项目。高低温寿命试验的温度规格是参考芯片的结温 (Tj，Junction Temperature)，高温一般消费型与工规产品使用125℃，低温则使用50℃。寿命试验的测试时间以1000小时为基础，实际的测试时间必须根据客户产品保固期，使用寿命公式进行推估。寿命试验属于动态试验，除了上述的加速因子外，通常会输入特定的程序，在动态的环境中确保芯片无任何的异常超标现象，以更贴近客户使用的环境。FLA-6630AS设备采用专业工控机和Windows系统控制。

设计一个高性能的IC芯片测试座需要考虑以下几个关键因素：

1.电气性能：测试座的电气性能，包括电阻、电容和电感，都应尽可能低，以较小化对测试信号的影响。

2.机械稳定性：测试座应具有良好的机械稳定性，以确保在测试过程中的稳定连接。

3.耐久性：测试座应能够承受长时间和高频率的插拔操作，而不会出现性能下降。

4.兼容性：测试座应具有良好的兼容性，能适应不同的IC芯片和测试设备。

5.热管理：测试过程中可能产生大量的热量，因此测试座的设计需要考虑良好的热管理。 提高客制化生产服务，以保持较大弹性，满足客户需求！深圳自动IC老化测试设备厂家电话

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