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广东本地IC老化测试设备厂家有哪些 推荐咨询 优普士电子供应

单价: 面议
所在地: 广东省
***更新: 2024-02-02 17:02:32
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公司基本资料信息
  • 优普士电子(深圳)有限公司
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产品详细说明

FLA-6610T高温老化设备,是一款专门针对eMMC、UFS、eMCP…等颗粒存储芯片进行高温老化的设备。设备采用专业工控机和Windows系统控制,能够同时支持1520颗芯片同步老化测试,腔体可在产生高温的同时确保温度精细嗡嗡嗡。

性能特点

1:10层堆叠技术,可同时测试10Tray产品。

2:技术源自日本,使用FPGA(ARM)架构

3:可同时针对1520颗芯片进行老化测试

4:预留MES系统对接接口

5:更換不同老化板即可生产eMCP/eMCP/ePOP等不同产品

6:单颗DUT单独的电源设计,保护产品

设备型号:FLA-6610T
使用产品类别:eMMC/eMCP/ePOP

温度范围:常温~+85°
测试DUT 数:1520pcs
电源:三相380V
功率:20KV
尺寸:1900mm(长)*1700mm(宽)*1900mm(高)
重量:600kg

优普士专业生产存储颗粒高低温测试设备,为了让memory颗粒存储芯片晶圆品质得到保障做一道老化测试。 OPS致力于成为半导体芯片烧、测试一体之领导厂商。广东本地IC老化测试设备厂家有哪些

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提高产品的寿命:通过对IC进行老化测试,可以发现IC在长时间使用过程中可能存在的问题和隐患,并及时采取措施进行改进和优化,从而提高产品的寿命和可靠性。优化产品设计:通过对IC的老化测试,可以获取大量的数据和信息,帮助工程师分析和优化产品设计。例如,可以评估不同材料和工艺对IC可靠性的影响,从而指导产品设计和制造过程。降低产品故障率:通过对IC进行老化测试,可以发现潜在的故障点和问题,并及时采取措施进行修复和改进,从而降低产品的故障率和维修成本。广东附近哪里有IC老化测试设备价格优普士FLA-6610T 高温老化设备,是一款专门针对eMMC、UFS、 eMCP…等颗粒存储芯片进行高温老化的设备。

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FLA-6630ASFLA-6630AS高低温老化设备,是一款专门针对eMMC、UFS、eMCP…等颗粒存储芯片进行高低温老化的设备。设备采用专业工控机和Windows系统控制,能够同时支持5040颗芯片同步老化测试,腔体可在产生高温(低温)的同时确保温度准确。

性能特点

1:温度准确,产品周边温度稳定控制在±3°内

2:升降温速度:可同时针对5040颗芯片进行老化测试

3:测试座可拔插替换式,方便更换与维护

4:预留MES系统对接接口

5:更換不同老化板即可兼容生产eMMC/eMCP/ePOP/UFS产品

6:单颗DUT电源设计,保护产品

设备型号FLA-6630AS使用产品类别eMMC/eMCP/ePOP/UFS温度范围‘-20℃~+85℃测试DUT数5040pcs电源三相380V功率30KV尺寸3350mm(长)*1450mm(深)*2300mm(高)重量1200kg。

IC老化测试是一种评估半导体器件长期稳定性和可靠性的关键步骤。这一过程涉及将IC暴露于超出正常工作条件的环境中,比如高温、高湿和电压应力。IC老化测试设备能够精确地这些条件,并持续监测IC的性能变化,从而预测其在实际应用中的寿命。这种测试对于发现制造缺陷、优化生产工艺以及确保产品质量尤为重要。

IC老化测试设备的应用范围极为,它不仅用于质量和保证流程,还对研发新产品的可靠性评估提供了支持。设备中的测试功能包括可编程温度和湿度循环,电压和频率的变化,以及对各种性能参数的实时监控。通过这些综合的测试方案,半导体制造商能够确保每一颗IC都能在其预期的工作条件下表现出性能。 优普士完整的E化平台系统整合计划,与物流及代理商电子商务平台链接计划。

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在IC老化测试设备的开发和应用方面,优普士电子(深圳)有限公司展示了其在半导体行业的深厚实力。作为行业的参与者,优普士不仅提供后端服务,如IC烧录、测试到老化等,还强调技术的整合与创新。与合作伙伴如富士康/Foxconn和苹果/Apple的合作,以及日本山田电音/Yamada Denon技术的并购,进一步巩固了公司在芯片烧录和测试领域的地位。优普士推出的全自动测试与烧录解决方案,以及集成的老化测试系统,都凸显了自动化、效率和精确性的重要性,这些特点是确保在芯片生产每个环节都能提供可靠质量的关键。通过这些的解决方案,优普士电子确保了其服务的质量与效率,满足了半导体行业对于高精度和高可靠性的严格要求。代工烧录不仅准确性和安全性高,另特点是节约成本和高效快捷。深圳哪里有IC老化测试设备报价行情

OPS是半导体后端芯片测试烧录服务商及嵌入式存储产品老化设备供应商。广东本地IC老化测试设备厂家有哪些

C老化测试设备是一种用于测试集成电路(IC)寿命和可靠性的设备。随着集成电路技术的不断发展,IC老化测试设备也在不断更新和改进,以满足不同类型IC的测试需求。IC老化测试设备通常由测试仪器、测试夹具、测试软件和测试样品组成。测试仪器包括高温箱、低温箱、恒温箱、高温高湿箱、温度循环箱等,用于模拟不同的环境条件,以测试IC在不同环境下的性能和可靠性。测试夹具用于固定和连接测试样品,确保测试的准确性和可重复性。测试软件用于控制测试仪器和采集测试数据,分析测试结果并生成测试报告。广东本地IC老化测试设备厂家有哪些

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