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IGBT与MOSFET的开关速度比较因功率MOSFET具有开关速度快，峰值电流大，容易驱动，安全工作区宽，dV/dt耐量高等优点，在小功率电子设备中得到了广泛应用。但是由于导通特性受和额定电压的影响很大，而且工作电压较高时，MOSFET固有的反向二极管导致通态电阻增加，因此在大功率电子设备中的应用受至限制。IGBT是少子器件，它不但具有非常好的导通特性，而且也具有功率MOSFET的许多特性，如容易驱动，安全工作区宽，峰值电流大，坚固耐用等，一般来讲，IGBT的开关速度低于功率MOSET，但是IR公司新系列IGBT的开关特性非常接近功率MOSFET，而且导通特性也不受工作电压的影响。由于IGBT内部不存在反向二极管，用户可以灵活选用外接恢复二极管，这个特性是优点还是缺点，应根据工作频率，二极管的价格和电流容量等参数来衡量。IGBT的内部结构，电路符号及等效电路如图1所示。可以看出，2020-03-30开关电源设计：何时选择BJT优于MOSFET开关电源电气可靠性设计1供电方式的选择集中式供电系统各输出之间的偏差以及由于传输距离的不同而造成的压差降低了供电质量，而且应用单台电源供电，当电源发生故障时可能导致系统瘫痪。分布式供电系统因供电单元靠近负载，改善了动态响应特性。
igbt模块结温变化会影响哪些因素?结温是指IGBT模块内部结构的温度，它的变化会影响IGBT模块的电性能、可靠性和寿命等多个方面。本文将从以下几个方面详细介绍IGBT模块结温变化对模块性能的影响。1.IGBT的导通损耗和开关损耗当IGBT模块结温升高时，其内部电阻变小，导通损耗会减小，而开关损耗则会增加。当结温升高到一定程度时，开关损耗的增加会超过导通损耗的减小，导致总损耗增加。因此，IGBT模块的结温升高会导致模块的损耗增加，降低模块的效率。2.热应力和机械应力IGBT模块的结温升高会导致模块内部产生热应力和机械应力。热应力是由于热膨胀引起的，会导致模块内部元器件的变形和应力集中，从而降低模块的可靠性和寿命。机械应力则是由于模块内部结构的膨胀和收缩引起的，会导致模块的包装材料产生应力，从而降低模块的可靠性和寿命。3.温度对IGBT的寿命的影响IGBT模块的结温升高会导致模块内部元器件的老化速度加快，从而降低模块的寿命。IGBT的寿命是与结温密切相关的，当结温升高到一定程度时，IGBT的寿命会急剧降低。
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