在硅光芯片领域,芯片耦合封装问题是硅光子芯片实用化过程中的关键问题,芯片性能的测试也是至关重要的一步骤,现有的硅硅光芯片耦合测试系统系统是将硅光芯片的输入输出端硅光纤置于显微镜下靠人工手工移动微调架转轴进行调硅光,并依靠对输出硅光的硅光功率进行监控,再反馈到微调架端进行调试。芯片测试则是将测试设备按照一定的方式串联连接在一起,形成一个测试站。具体的,所有的测试设备通过硅光纤,设备连接线等连接成一个测试站。例如将VOA硅光芯片的发射端通过硅光纤连接到硅光功率计,使用硅硅光芯片耦合测试系统就可以测试硅光芯片的发端硅光功率。将硅光芯片的发射端通过硅光线连接到硅光谱仪,就可以测试硅光芯片的硅光谱等。硅光芯片耦合测试系统优点:数据集中。上海单模硅光芯片耦合测试系统机构

伴随着光纤通信技术的快速发展,小到芯片间,大到数据中心间的大规模数据交换处理,都迫切需求高速,可靠,低成本,低功耗的互联。当前,我们把主流的光互联技术分为两类。一类是基于III-V族半导体材料,另一类是基于硅等与现有的成熟的微电子CMOS工艺兼容的材料。基于III-V族半导体材料的光互联技术,在光学性能方面较好,但是其成本高,工艺复杂,加工困难,集成度不高的缺点限制了未来大规模光电子集成的发展。硅光芯片器件可将光子功能和智能电子结合在一起以及提供潜力巨大的高速光互联的解决方案。上海分路器硅光芯片耦合测试系统公司光通信的一个发展趋势是实现集成化,类似于集成电路,将光通信系统集成在单一光电子芯片。

硅光芯片耦合测试系统系统的测试设备主要是包括可调激光器、偏振控制器和多通道光功率计,通过光矩阵的光路切换,每一时刻在程序控制下都可以形成一个单独的测试环路。光源出光包含两个设备,调光过程使用ASE宽光源,以保证光路通过光芯片后总是出光,ASE光源输出端接入1*N路耦合器;测试过程使用可调激光器,以扫描特定功率及特定波长,激光器出光后连接偏振控制器输入端,以得到特定偏振态下光信号;偏振控制器输出端接入1个N*1路光开光;切光过程通过输入端光矩阵,包含N个2*1光开关,以得到特定光源。输入光进入光芯片后由芯片输出端输出进入输出端光矩阵,包含N个2*1路光开关,用于切换输出到多通道光功率计或者PD光电二极管,分别对应测试过程与耦合过程。
硅光芯片耦合测试系统是比较关键的,我们的客户非常关注此工位测试的严谨性,硅光芯片耦合测试系统主要控制“信号弱”,“易掉话”,“找网慢或不找网”,“不能接听”等不良机流向市场。一般模拟用户环境对设备EMC干扰的方法与实际使用环境存在较大差异,所以“信号类”返修量一直占有较大的比例。可见,硅光芯片耦合测试系统是一个需要严谨的关键岗位,在利用金机调好衰减(即线损)之后,功率无法通过的,必须进行维修,而不能随意的更改线损使其通过测试,因为比较可能此类机型在开机界面显示满格信号而在使用过程中出现“掉话”的现象,给设备质量和信誉带来负面影响。以上是整机耦合的原理和测试存在的意义,也就是设备主板在FT测试之后,还要进行组装硅光芯片耦合测试系统的原因。下面再说一说硅光芯片耦合测试系统过程中常见的异常问题和处理思路。硅光芯片耦合测试系统保证产品质量一致性,节约了人力成本,降低对人工的依赖。

目前,基于SOI(绝缘体上硅)材料的波导调制器成为当前的研究热点,也取得了许多的进展,但在硅光芯片调制器的产业化进程中,面临着一系列的问题,波导芯片与光纤的有效耦合就是难题之一。从悬臂型耦合结构出发,模拟设计了悬臂型倒锥耦合结构,通过开发相应的有效地耦合工艺来实现耦合实验,验证了该结构良好的耦合效率。在这个基础之上,对硅光芯片调制器进行耦合封装,并对封装后的调制器进行性能测试分析。主要研究基于硅光芯片调制技术的硅基调制器芯片的耦合封装及测试技术其实就是硅光芯片耦合测试系统。硅光芯片耦合测试系统优点:测试精确。上海单模硅光芯片耦合测试系统机构
硅光芯片耦合测试系统的优势:强电流加载控制子系统采用大功率超导电源对测试样品进行电流加载。上海单模硅光芯片耦合测试系统机构
硅光芯片耦合测试系统的应用技术领域,公开了光子集成芯片的新型测试系统及方法,包括测试设备和集成芯片放置设备,测试设备包括电耦合测试设备和光耦合测试设备中的一种或两种,电耦合测试设备和光耦合测试设备可拆卸安装在集成芯片放置机构四周,电耦合测试设备包括单探针耦合模块和探针卡耦合模块,光耦合测试设备包括阵列光纤耦合模块和光纤耦合模块;该通过改进结构,形成电耦合测试机构和光耦合测试设备,通过搭配组装可灵活对待测试集成芯片进行光耦合测试和电耦合测试,安装方便快捷,成本低。上海单模硅光芯片耦合测试系统机构
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