DT系列检测设备是用千实验室条件下对热像仪各项性能检测的设备。如果需要的话DT设备还可以检测TV/LLLTV成像,或者热像仪和TV/LLLTV成像之间的光轴校正。注:推荐用MS设备来检测和校准感应器比较多的系统。DT系列设备采用了一个可调的投射源,所以可以用不同的投射源去投射被测的热像仪(或者TV/LLLTV成像)。被测的成像仪会产生基千这个投射源的一个扭曲的图像。一般由人或者软件通过该图像去判断被测成像仪的性能,被测成像仪的所有重要特征检测项都包含在内。DT系列设备可以检测热像仪、TV/LLLTV成像仪、超长距离设备、乃至航天领域设备。DT系列设备是模块化的检测设备,可以根据不同的待测物轻松的做出优化。从基本的短程热像仪到大型的机载监视系统等所有宽泛的监测设备都可以轻松应对。DT系列设备可以说是目前市场上高性价比的产品。高效测试,光电技术为农业智能化护航。上海明策光电测试系统准不准
靶标是用于测试光电成像系统时创建参考图像的模块。Inframet提供的靶标可分为两类:1)无源靶标,2)有源靶标。无源靶标需要由黑体或标定光源产生均匀光束照射,生成参考图像模式的图像。这些靶标通常是大型测试系统位于平行光管焦平面的小模块。无源靶标的工作不需要电力供应。这些标准的小尺寸靶标作为Inframet制造的大型模块化测试系统(如DT,TAIM,TVT,MS)的一部分。有源靶标是通过其自身的热辐射或由人造光源发出的反射光创建参考图案。这些目标通常是大型的单独模块(尺寸从500mm到3000mm),需要电才能正常工作。被测光电成像仪可直接看到有源靶标。这些靶标用于测试融合成像仪的融合算法或作为热像仪/VIS-NIR相机分辨率靶标的流行解决方案。FUT系列靶标是有源靶标,通常用于测试融合成像系统或热像仪。经典热图像与可见光图像的融合成像系统拥有更强的监视能力。融合系统通常使用一个多传感器成像系统,由一个热像仪和一个可见光相机(或夜视设备和可见光相机)组成,图像的融合可以采用光学方法或数字图像处理方法。上海光电测试系统解决方案inframetORl 光学镜头测试系统INFRAMET 测试系统,提升船舶制造精度与安全性。
SWIR相机(短波红外) 是重要的监控用光电相机。首先,InGaAs技术的发展与成熟促进了低成本短波红外相机的发展;其次,InGaAs相机在非常暗的夜晚会非常灵敏因此可以生成更为清晰的图像;再次,工作在可见光/近红外波段的短波红外相机相比与TV/LLLTV相机来说在不洁净的空气环境中不容易损坏;另外,短波红外相机比起红外热像仪来说在使用小光学系统可以生成更高分辨率的图像。
短波红外相机与TV/LLLTV相机原理类似,也是利用被观察的目标产生的辐射反射来获取图像。同时,短波红外相机也可以利用被测试目标产生的热辐射生成与红外热像仪类似的图像。根据以上功能描述,短波红外相机的测试可以依据测试TV/LLLTV相机原理或者根据红外热像仪测试原理进行。InGaAs FPAs的参数也可以用来表征短波红外相机。
HTB系列黑体是高温腔式黑体炉,温度范围高达1200°C。该系列黑体的优势在于发射腔直径较大,为25mm。黑体腔体是使用底端封闭圆筒的腔体的概念设计的。黑体提供高发射率,超宽光谱带:从0.4μm到超过30μm。 这种宽光谱带使得可以使用HTB黑体作为标准辐射源,其范围从可见光波段到LWIR波段。 HTB黑体可以直接从内部键盘控制,也可以使用标准USB端口从PC远程控制。
主要特性
25mm的较大孔径;
提供从0.4到超过30的高发射率;
可以内部键盘控制,也可以使用USB端口从PC远程控制。 光电测试系统,保障文物修复科学精细。
TAIM可以对不超过120mm的光学瞄准镜和热夹钳提供扩展的测试和视线。可以使用对从电子输出捕获的图像或从被测设备的显示器捕获的图像进行分析来执行测试。
总测试功能:1.蕞小可分辨温差MRTD测量2.图像偏转角度和热像仪夹像旋转测量3.屈光度调节范围、目镜度数和屈光度刻度精度测量4.在电子输出和光学输出(显示器)上测量MTF,NETD,FPN,非均匀性,FOV,失真,放大倍数。注意:噪声参数只在电子输出端测量。
选配:1.检查从无限远对焦到短距离对焦是否有图像偏移 光电精确测试,提升造纸行业纸品质量。上海明策光电测试系统准不准
光电测试系统,助力LED照明品质提升。上海明策光电测试系统准不准
ST测试系统计算机化测试系统,半自动测试短波红外相机的重要参数;1)ModeI:分辨率,MRC(蕞小可分辨对比度),MTF(调至传递函数),Distortion(畸变),FOV(视场),灵敏度,SNR(信噪比),NEI(噪声等效输入),FPN(固定图形噪声),non-uniformity(非均匀性)等;2)ModeII:MRTD(蕞小可分辨温差,MDTD(蕞小可探测温差),MTF(调至传递函数),NETD(噪声等效温差),FPN(固定图形噪声)等;3)ModeIII:(MeanDetectivity(平均探测率),NoiseEquivalentIrradiance(噪声等效辐亮度),噪声,动态范围等。上海明策光电测试系统准不准
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